Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich = Correction methods in quantitative x-ray microanalysis of light elements - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Przejdź do menu głównego
Przejdź do wyszukiwarki
Przejdź do treści
Przejdź do stopki

Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich = Correction methods in quantitative x-ray microanalysis of light elements

Pobierz

Tytuł: Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich = Correction methods in quantitative x-ray microanalysis of light elements

Twórca:

Kaczyński Łukasz

Data wydania/powstania:

Typ zasobu:

Inny tytuł:

Prace ITME1983 z. 7

Wydawca:

Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"

Miejsce wydania:

Opis:

36 s. : il. 24 cm ; Bibliogr. s.34-36

Czasopismo/Seria/cykl:

Electronic Materials

Zeszyt:

Strona pocz.:

Strona końc.:

Szczegółowy typ zasobu:

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:rcin.org.pl:34344

Źródło:

kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

Prawa:

Rights Reserved - Free Access

Zasady wykorzystania:

Copyright-protected material. May be used within the limits of statutory user freedoms

Digitalizacja:

Institute of Electronic Materials Technology

Lokalizacja oryginału:

Library of the Institute of Electronic Materials Technology

Dofinansowane ze środków:

Programme Innovative Economy, 2010-2014, Priority Axis 2. R&D infrastructure ; European Union. European Regional Development Fund

Dostęp:

Temat i słowa kluczowe:

quantitative X-ray microanalysis light element correction method

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2 paź 2020

Data dodania obiektu:

15 paź 2013

Liczba pobrań / odtworzeń:

603

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://www.rcin.org.pl/publication/52879

Wyświetl opis w formacie RDF:

Wyświetl opis w formacie RDFa:

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

PRACE ITME
- PRACE ONPMP
- PRACE ITME

Nazwa wydania	Data
Kaczyński Łukasz, Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich	2 paź 2020

Obiekty Podobne

Ilościowa mikroanaliza rentgenowskaiwrwiastków lekkich. Porównanie wyników metod korekcyjnych = A quantitative x-ray microanalysis of lihgt elements. Comparison of methods

Kaczyński Łukasz

1988

Text

Rola czynników eksperymentalnych w mikroanalizie rentgenowskiej pierwiastków lekkich = The role of experimental factors in x-ray microanalysis of light elements

Kaczyński Łukasz

1990

Text

Efekt kontaminacji w mikroanalizie rentgenowskiej =Effect of contamination on X-ray microanalysis

Kaczyński Łukasz

1990

Text

Jan Czochralski - twórca metody monokrystalizacji = Jan Czochralski - inventor of the monocrystallisation method

Kaczyński Łukasz

1991

Text

Precyzja wyników mikroanalizy rentgenowskiej i metody jej podwyższenia = The X-ray microanalysis precision and methods of its improving

Stróż Kazimierz

1987

Text

Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej = Principles for quantitative X-ray micoanalysis in the analytical electron microscopy

Paduch Józef

1992

Text

The influence of sampling interval on accuracy of probabilistic attenuation correction for GPR signal

Chishima, Fumihiko Kamei, Hiroyuki

2015

Journal/Article

Problem ustalenia podstawy krytycznego wydania „Vade-mecum”

Chlebowski, Piotr

2021

Text

Więcej

Styl cytowania:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji