Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz. - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Przejdź do menu głównego
Przejdź do wyszukiwarki
Przejdź do treści
Przejdź do stopki

$Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.$

Pobierz

Tytuł: Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.

Twórca:

Wierzchowski Wojciech

Data wydania/powstania:

Typ zasobu:

Inny tytuł:

Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej

Współtwórca:

Malinowska Agnieszka ; Wieteska Krzysztof ; Wierzbicka Edyta ; Mazur Krystyna ; Lefeld - Sosnowska Maria ; Świrkowicz Marek ; Łukasiewicz Tadeusz

Wydawca:

Miejsce wydania:

Opis:

Bibliogr. s.: 29 - 32 ; s.: 17 - 32 il., 30 cm.

Typ obiektu:

Książka/Rozdział

Bibliografia:

29-32

Czasopismo/Seria/cykl:

Materiały Elektroniczne Vol. 44 No. 4 2016

Tom:

Zeszyt:

Strona pocz.:

Strona końc.:

Szczegółowy typ zasobu:

Format:

A4 ; application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:rcin.org.pl:65471

Źródło:

kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

Język streszczenia:

Prawa:

Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony

Zasady wykorzystania:

Zasób chroniony prawem autorskim. Korzystanie dozwolone w zakresie określonym przez przepisy o dozwolonym użytku.

Digitalizacja:

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Lokalizacja oryginału:

Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych

Dofinansowane ze środków:

Działalność upowszechniająca naukę (DUN) ; Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego

Dostęp:

Temat i słowa kluczowe:

dyfrakcyjna topografia dyfrakcyjna defekty sieci krystalicznej metoda Czochralskiego

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2 paź 2020

Data dodania obiektu:

1 cze 2018

Liczba pobrań / odtworzeń:

235

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://www.rcin.org.pl/publication/84715

Wyświetl opis w formacie RDF:

Wyświetl opis w formacie RDFa:

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

MATERIAŁY ELEKTRONICZNE

Nazwa wydania	Data
Wierzchowski Wojciech, Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography	2 paź 2020

Obiekty Podobne

Acta Poloniae Historica T. 12 (1965), Comptes rendus

Herbst, Stanisław (1907–1973) Samsonowicz, Henryk (1930–2021) Russocki, Stanisław (1930–2002) Lalik, Tadeusz (1928–2000) Wyrozumski, Jerzy (1930–2018) Bogucka, Maria (1929–2020) Ihnatowicz, Ireneusz (1928–2001) Łepkowski, Tadeusz (1927–1989) Berghauzen, Janusz (1930–1977) Bartel, Wojciech Maria (1923–1992) Wierzchowski, Mirosław (1928–1966) Koberdowa, Irena (1916–2008) Drozdowski, Marian Marek (1932– ) Paczkowski, Andrzej (1938– )

1965

Tekst

Więcej

Styl cytowania:

iso690-author-date apa modern-language-association chicago-author-date

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji