Język metadanych
144 s.: il. 24 cm. ; Bibliogr. s. 132-144
Typ obiektu: Temat i słowa kluczowe:Elektronika - materiały ; Materiały elektroniczne ; GdCoB ; metoda Czochralskiego ; własności spektroskopowe ; defekt strukturalny
Czasopismo/Seria/cykl: Strona pocz.: Strona końc.: Typ zasobu: Szczegółowy typ zasobu: Format: Źródło:ITME, sygn. P/2217 ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język: Prawa:Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Zasady wykorzystania: Digitalizacja:Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Lokalizacja oryginału:Biblioteka Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych
Dofinansowane ze środków:Program Operacyjny Innowacyjna Gospodarka, lata 2010-2014, Priorytet 2. Infrastruktura strefy B + R ; Unia Europejska. Europejski Fundusz Rozwoju Regionalnego
Dostęp: