@misc{Brzozowski_Andrzej_Pomiar_1984,
 author={Brzozowski Andrzej},
 volume={44},
 editor={Szymkiewicz Andrzej},
 number={4},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Electronic Materials},
 howpublished={online},
 year={1984},
 publisher={Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Pomiar warstw epitaksjalnych metoda C-V przy użyciu sondy rtęciowej = Measurements of the epitaxial layers parameters by means of C-V method with Hg probe},
 URL={http://www.rcin.org.pl/Content/9115/PDF/WA901_12326_M1_r1983-z4-44_Mater-Elektroniczne_Brzozowski_ii.pdf},
 keywords={Electronic - journal - materials, Electronic - materials, metal-semiconductor rectifier contact, epitaxial layer, C-V method},
}