@misc{Brzozowski_Andrzej_Pomiar_2008,
 author={Brzozowski Andrzej},
 volume={36},
 number={3},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Electronic Materials},
 howpublished={online},
 year={2008},
 publisher={ITME},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Pomiar koncentracji nosników ładunku w płytkach monokryształów objętościowych i warstwach epitaksjalnych SiC za pomocą sondy rtęciowej = Measurement of charge carrier concentration in SiC wafers of bulk crystals and epitaxial layers using mercury probe},
 URL={http://www.rcin.org.pl/Content/7176/PDF/WA901_16004_M1-r2008-t36-z3_Mater-Elektroniczne_Brzozowski-A_i.pdf},
 keywords={Electronic - materials, Electronic - journal - materials, charge carrier concentration, SiC, mercury probe},
}