@misc{Kozubal_Michał_Nowe_2013,
 author={Kozubal Michał},
 volume={41},
 editor={Pawłowski Michał},
 editor={Mawłowski Marek},
 editor={Brzozowski Michał},
 number={3},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Electronic Materials},
 howpublished={online},
 year={2013},
 publisher={ITME},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Nowe stanowisko pomiarowe do charakteryzacji centrów defektowych metodą niestacjonarnej spektroskopii pojemnościowej = New measurement system for characterization of defect centers by capacitance transient spectroscopy method},
 URL={http://www.rcin.org.pl/Content/42774/PDF/WA901_59736_M1_r2013-t41-z3_Mater-Elektron-Kozu_i.pdf},
 keywords={DLTS, defect centers, SiC},
}