@misc{Wierzchowski_Wojciech_Badania_1994,
 author={Wierzchowski Wojciech},
 number={44},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Proceedings of ITME},
 howpublished={online},
 year={1994},
 publisher={ITME},
 language={pol},
 title={Badania realnej struktury monokryształów i warstw epitaksjalnych z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego i symulacji obrazów dyfrakcyjnych = The study of single crystals and epitaxial layers with the use synchrotron radiation and simulation of diffraction images},
 type={Text},
 URL={http://www.rcin.org.pl/Content/33501/PDF/WA901_18371_r1994_Prace-ITME-Wierzch_i.pdf},
 keywords={Electronic - journal - material, Electronic materials, synchrotron topography, AIIIBV, Si},
}