@misc{Bajor_Andrzej_Fotometryczna_1985,
 author={Bajor Andrzej},
 editor={Adamkiewicz Grażyna},
 number={16},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Proceedings of ITME},
 howpublished={online},
 year={1985},
 publisher={Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Fotometryczna metoda pomiaru naprężeń w materiałach półprzewodnikowych = Intensity method for stress measurement of semiconductors},
 URL={http://www.rcin.org.pl/Content/31006/PDF/WA901_17903_r1985-z16_Prace-ITME-Bajor_i.pdf},
 keywords={Electronic - materials, Electronic - journal - materials},
}