@misc{Jeske_Witlod_Metody_1976,
 author={Jeske Witlod},
 volume={15},
 editor={Sadowski Janusz},
 editor={Weyher Jan},
 number={3},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Electronic Materials},
 howpublished={online},
 year={1976},
 publisher={Wydaw. Przemysłu Maszynowego WEMA},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Metody ujawniania, klasyfikacja i ocena struktury defektów typu SWIRLS w bezdyslokacyjnych monokryształach krzemu, otrzymywanych metodą beztyglowego topienia strefowego = The methods of revealing, clasification and "swirls" defects in the dislocation free float-zone silicon crystals},
 URL={http://www.rcin.org.pl/Content/26992/PDF/WA901_20079_M1_r1976-z3-15_Mater-Elektron-Jeske_i.pdf},
 keywords={Electronic - journal - materials, Electronic - materials, SWIRLS defect, SiF2, dislocation free crystal},
}