@misc{Brzozowski_Andrzej_Wpływ_1982,
 author={Brzozowski Andrzej},
 volume={35/36},
 editor={Tomaszewski Jacek},
 number={3/4},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Electronic Materials},
 howpublished={online},
 year={1982},
 publisher={Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Wpływ stanu powierzchni i krzemu na pomiar rezystywności metodą "oporności rozpływu" = The influence of the surface conditions on the resistivity measurements of silicon by the spreading resistance method},
 URL={http://www.rcin.org.pl/Content/18807/PDF/WA901_11824_M1_r1981-z3-4-35-36_Mater-Elektron-Brzo_i.pdf},
 keywords={Electronic - journal - materials, Electronic - materials, Si wafer, resistivity, sprending resistance method},
}