@misc{Ciszewski_Bohdan_Analiza_1980,
 author={Ciszewski Bohdan},
 volume={26},
 editor={Kącki Jerzy},
 number={2},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 address={Warszawa},
 journal={Electronic Materials},
 howpublished={online},
 year={1980},
 publisher={Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"},
 language={pol},
 type={Text},
 title={Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymanych metodą EPG. Cz. II = An analysis of the defects occuring in silicon structure on the base of EPG silicon ribbon observation. Part II},
 URL={http://www.rcin.org.pl/Content/18491/PDF/WA901_11663_M1_r1979-z2-26_Mater-Elektron-Cisz_i.pdf},
 keywords={Electronic - journal - materials, Electronic - materials, defect, silicon ribbon, EFG method},
}