@misc{Bartyś_Michał_XV_2005,
 author={Bartyś, Michał and Kościelny, Jan},
 copyright={Creative Commons Attribution BY 4.0 license},
 address={Warszawa},
 journal={Książka = Book},
 howpublished={online},
 year={2005},
 publisher={Instytut Badań Systemowych. Polska Akademia Nauk},
 publisher={Systems Research Institute. Polish Academy of Sciences},
 language={pol},
 abstract={W referacie rozważane są zagadnienia bieżącego diagnozowania procesów przemysłowych związane z uszkodzeniami wielokrotnymi. Przeprowadzono analizę możliwości rozpoznawania takich uszkodzeń, przy wnioskowaniu prowadzonym przy założeniu uszkodzeń pojedynczych. Podano algorytmy rozpoznawania stanów z uszkodzeniami wielokrotnymi. Przedyskutowano wpływ diagnozowania prowadzonego w strukturach zdecentralizowanych na możliwość rozpoznawania uszkodzeń wielokrotnych.},
 type={Text},
 title={XV krajowa konferencja automatyki : Warszawa, 27-30 czerwca 2005. T. 2 * Technika systemów - diagnostyka * Problem uszkodzeń wielokrotnych w diagnostyce procesów przemysłowych},
 URL={http://www.rcin.org.pl/Content/205821/PDF/KS-2005-02-R10P04.pdf},
}