@misc{Rupniewski_Wojciech_Metodyka_1979,
 author={Rupniewski Wojciech},
 volume={22},
 editor={Wójcik Marek},
 number={2},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 journal={Electronic Materials},
 address={Warszawa},
 howpublished={online},
 year={1979},
 publisher={Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"},
 language={pol},
 title={Metodyka badania warstw epitaksjalnych krzemu za pomocą transmisyjnego mikroskopu elektronowego z zastosowaniem map linii Kikuchi = The method of study for the silicon epitaxial monolayers by means of transmission electron microscope with use of Kikuchi lines map},
 type={Text},
 URL={http://www.rcin.org.pl/Content/18356/PDF/WA901_11349_M1_r1978-z2-22-Mater-Elektron-Rup_i.pdf},
 keywords={Electronic - materials, Electronic - journal - materials, silicon epitaxial layer},
}