@misc{Kozłowski_Roman_Zastosowanie_1998,
 author={Kozłowski Roman},
 volume={26},
 editor={Kamiński Paweł},
 number={1},
 copyright={Rights Reserved - Free Access},
 journal={Electronic Materials},
 address={Warszawa},
 howpublished={online},
 year={1998},
 publisher={ITME},
 language={pol},
 title={Zastosowanie metody DLTS do badania głębokich centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych wieloskładnikowych związków AIIIBV = Application of DLTS method to investigation of deep defect centers in epitaxial layers of multicomponent III-V compounds},
 type={Text},
 URL={http://www.rcin.org.pl/Content/17249/PDF/WA901_15203_M1_r1998-t26-z1_Mater-Elektron-Koz_i.pdf},
 keywords={Electronic - journal - materials, Electronic - materials, AIII-BV, DLTS, deep defect center},
}